Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа

von Рубцевич, И.И., Ануфриев, Л.П., Керенцев, А.Ф.
Veröffentlicht 2004

Оптимизация конструкции мембранных датчиков

von Рубцевич, И.И., Высоцкий, В.Б., Ковальчук, Н.С.
Veröffentlicht 2009

Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа

von Рубцевич, И.И., Ануфриев, Л.П., Керенцев, А.Ф.
Veröffentlicht 2004

Оптимизация конструкции мембранных датчиков

von Рубцевич, И.И., Высоцкий, В.Б., Ковальчук, Н.С.
Veröffentlicht 2009

Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества

von Солодуха, В.А., Турцевич, А.С., Соловьёв, Я.А., Рубцевич, И.И., Керенцев, А.Ф.
Veröffentlicht 2012

Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку...

von Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Высоцкий, В.Б., Дудкин, А.И., Ковальчук, Н.С.
Veröffentlicht 2011

Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества

von Солодуха, В.А., Турцевич, А.С., Соловьёв, Я.А., Рубцевич, И.И., Керенцев, А.Ф.
Veröffentlicht 2012

Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку...

von Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Высоцкий, В.Б., Дудкин, А.И., Ковальчук, Н.С.
Veröffentlicht 2011

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

von Турцевич, А.С., Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Васьков, О.С., Кононенко, В.К., Нисс, В.С., Керенце, А.Ф.
Veröffentlicht 2012

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

von Турцевич, А.С., Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Васьков, О.С., Кононенко, В.К., Нисс, В.С., Керенце, А.Ф.
Veröffentlicht 2012