Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа

за авторством Рубцевич, И.И., Ануфриев, Л.П., Керенцев, А.Ф.
Опубліковано 2004

Оптимизация конструкции мембранных датчиков

за авторством Рубцевич, И.И., Высоцкий, В.Б., Ковальчук, Н.С.
Опубліковано 2009

Исследование MOSFET-транзисторов в различных герметичных корпусах для поверхностного монтажа

за авторством Рубцевич, И.И., Ануфриев, Л.П., Керенцев, А.Ф.
Опубліковано 2004

Оптимизация конструкции мембранных датчиков

за авторством Рубцевич, И.И., Высоцкий, В.Б., Ковальчук, Н.С.
Опубліковано 2009

Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества

за авторством Солодуха, В.А., Турцевич, А.С., Соловьёв, Я.А., Рубцевич, И.И., Керенцев, А.Ф.
Опубліковано 2012

Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку...

за авторством Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Высоцкий, В.Б., Дудкин, А.И., Ковальчук, Н.С.
Опубліковано 2011

Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества

за авторством Солодуха, В.А., Турцевич, А.С., Соловьёв, Я.А., Рубцевич, И.И., Керенцев, А.Ф.
Опубліковано 2012

Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку...

за авторством Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Высоцкий, В.Б., Дудкин, А.И., Ковальчук, Н.С.
Опубліковано 2011

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

за авторством Турцевич, А.С., Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Васьков, О.С., Кононенко, В.К., Нисс, В.С., Керенце, А.Ф.
Опубліковано 2012

Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...

за авторством Турцевич, А.С., Рубцевич, И.И., Соловьев, Я.А., Васьков, О.С., Кононенко, В.К., Нисс, В.С., Керенце, А.Ф.
Опубліковано 2012