Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур

by Бойко, Ю.В., Кузнецов, Г.В., Савицкий, С.М., Третяк, О.В.
Published 2007

Изменение сопротивления силовых диодов под действием импульсов ударного тока

by Павлюк, С.П., Савицкий, С.М., Солтис, Р.Б., Тищенко, И.Ю.
Published 2007

Воздействие импульсов прямого тока на время жизни неосновных носителей заряда в р+–n-диоде

by Кушниренко, В.В., Нинидзе, Г.К., Павлюк, С.П., Савицкий, С.М., Третяк, О.В.
Published 2007