Исследование удельного сопротивления омических контактов Au—Ti—Pd—n-Si для лавинно-пролетных диодов...

von Басанец, В.В., Слепокуров, В.С., Шинкаренко, В.В., Кудрик, Р.Я., Кудрик, Я.Я.
Veröffentlicht 2015

Методы определения высоты барьера шоттки из вольт-амперных характеристик (обзор)

von Кудрик, Я.Я., Шинкаренко, В.В., Слепокуров, В.С., Бигун, Р.И., Кудрик, Р.Я.
Veröffentlicht 2014

Радиационная технология улучшения омических контактов к элементам электронной техники

von Конакова, Р.В., Колядина, Е.Ю., Матвеева, Л.А, Нелюба, П.Л., Шинкаренко, В.В.
Veröffentlicht 2010

Влияние разброса значений электрических параметров RGB-светодиодов на однородность свечения светодиодных экранов при минимальной градации яркости...

von Велещук, В.П., Власенко, А.И., Власенко, З.К., Шинкаренко, В.В., Кудрик, Я.Я., Сай, П.О., Борщ, В.В.
Veröffentlicht 2017

Особенности трансформации примесно-дефектных комплексов в CdTe:Cl под воздействием СВЧ-облучения

von Будзуляк, С.И., Корбутяк, Д.В., Лоцько, А.П., Вахняк, Н.Д., Калитчук, С.М., Демчина, Л.А., Конакова, Р.В., Шинкаренко, В.В., Мельничук, А.В.
Veröffentlicht 2014