Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging

von Beketov, G.V.
Veröffentlicht 2011

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

von Rengevych, O.V., Beketov, G.V., Ushenin, Yu.V.
Veröffentlicht 2014

AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers

von Beketov, G.V., Rashkovetskiy, L.V., Rengevych, O.V., Zhovnir, G.I.
Veröffentlicht 2000

Особливостi дислокацiйного поглинання ультразвуку в безсубблочних кристалах Cd0,2Hg0,8Te

von Lysyuk, I. O., Olikh, Ya. M., Olikh, O. Ya., Beketov, G V.
Veröffentlicht 2018

Refractory contact to a-SiC produced by laser technology methods

von Fedorenko, L.L., Kiseleov, V.S., Svechnikov, S.V., Yusupov, M.M., Beketov, G.V.
Veröffentlicht 2001

Biochemical passivation of metal surfaces for sensor application: reactive annealing of polycrystalline gold films in hydrogen sulfide atmosphere

von Snopok, B. A., Kostyukevych, K.V., Beketov, G.V., Zinio, S.A., Shirshov, Yu.M., Venger, E.F.
Veröffentlicht 2000

Hot wall growth and properties of lead telluride films doped by germanium and gallium

von Lashkarev, G.V., Radchenko, M.V., Slynko, E.I., Vodopiyanov, V.N., Asotsky, V.V., Kaminsky, V.M., Beketov, G.V., Rengevich, E.V.
Veröffentlicht 2000