Показ
1 - 4
результатів із
4
для пошуку '
Bondarenko, N.V.
'
Перейти до змісту
VuFind
Ваш обліковий запис
Вихід
Логін
Мова
English
Deutsch
Українська
Всі поля
Назва
Назва журналу
Автор
Предмет
Опис
Тег
Знайти
Розширений
Автор
Bondarenko, N.V.
Показ
1 - 4
результатів із
4
для пошуку '
Bondarenko, N.V.
'
, час виконання запиту: 0.02сек.
Уточнити результати
Сортувати
Релевантність
Дата у спадаючому порядку
Дата у зростаючому порядку
Шифр
Автор
Назва
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Вибрати результат під номером 1
1
The Estimation of Stability and Growth of F.C.C. Iron Nanocluster Containing the Impurity Atoms
за авторством
Bondarenko, N.V.
,
Nedolya, A.V.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати результат під номером 2
2
AN IMPROVED PHOTOCLINOMETRY TECHNIQUE FOR SURFACE RELIEF RETRIEVAL FROM IMAGES: ERROR LEVELS FOR HEIGHT AND SLOPE ESTIMATES
за авторством
Dulova, I. A.
,
Bondarenko, N. V.
Опубліковано 2023
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати результат під номером 3
3
LOCAL HEIGHT CALCULATION ERRORS IN THE PLANET SURFACE RELIEF RETRIEVED FROM IMAGES BY THE IMPROVED PHOTOCLINOMETRY METHOD
за авторством
Dulova, I. A.
,
Bondarenko, N. V.
Опубліковано 2025
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати результат під номером 4
4
INVOLVEMENT OF ALTIMETRY INFORMATION INTO THE IMPROVED PHOTOCLINOMETRY METHOD FOR RELIEF RETRIEVAL FROM A SLOPE FIELD
за авторством
Kornienko, Yu. V.
,
Dulova, I. A.
,
Bondarenko, N. V.
Опубліковано 2021
Отримати повний текст
Стаття
Додати у Вибране
Збережено в:
Вибрати сторінку | з відміченими:
Е-пошта
Експорт
Друк
Зберегти
Інструменти для пошуку:
Отримати RSS-стрічку
–
Відправити пошук е-поштою
Пов'язані теми
optimal filtering
photometry
оптимальна фільтрація
рельєф поверхні планети
фотометрія
planetary surface relief
похибка обчислення висоти
altimetry
error in height
height calculation error
planet surface relief
statistical estimation of random value
Строение и свойства наноразмерных и мезоскопических материалов
альтиметр
статистична оцінка випадкової величини