Polarization conversion effect in obliquely deposited SiOx films

by Sopinskyy, M.V., Indutnyi, I.Z., Michailovska, K.V., Shepeliavyi, P.E., Tkach, V.M.
Published 2011

Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals

by Prokopenko, I.V., Kislovskii, E.N., Olikhovskii, S.I., Tkach, V.M., Lytvyn, P.M., Vladimirova, T.P.
Published 2000

Micropatterning in bistable cholesteric device with Bragg's reflection

by Gritsenko, M.I., Kucheev, S.I., Lytvyn, P.M., Tishenko, V.G., Tkach, V.M., Yelshansky, V.B.
Published 2006

Радiацiйнi пошкодження багатостiнних вуглецевих нанотрубок при опромiненнi електронами

by Pinchuk-Rugal, T. M., Dmytrenko, O. P., Kulish, M. P., Bulavin, L. A., Nychyporenko, O. S., Grabovskyi, Yu. E., Zabolotnyi, M. A., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Shlapatska, V. V., Tkach, V. M.
Published 2019

Вплив тиску аргону в камерi осадження на властивостi легованих алюмiнiєм плiвок ZnO, вирощених методом пошарового осадження при магнетронному розпиленнi...

by Popovych, V. I., Ievtushenko, A. I., Lytvyn, O. S., Romanjuk, V. R., Tkach, V. M., Baturyn, V. A., Karpenko, O. Y., Dranchuk, M. V., Klochkov, L. O., Dushejko, M. G., Karpyna, V. A., Lashkarov, G. V.
Published 2019