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Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
von
V. A. Vashchenko
,
I. V. Yatsenko
,
Yu. I. Kovalenko
,
V. P. Kladko
,
Yo. Gudymenko
,
P. M. Lytvyn
,
A. A. Korchovyi
,
S. V. Mamykin
,
O. S. Kondratenko
,
V. P. Maslov
,
H. V. Dorozinska
,
G. V. Dorozinsky
Veröffentlicht 2019
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