Bochek, G., Deiev, O., Maslov, N., & Voloshyn, V. (2011). X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Bochek, G.L, O.S Deiev, N.I Maslov, та V.K Voloshyn. X-ray Lines Relative Intensity Depending on Detector Efficiency, Foils and Cases Thickness for Primary and Scattered Spectra. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Bochek, G.L, et al. X-ray Lines Relative Intensity Depending on Detector Efficiency, Foils and Cases Thickness for Primary and Scattered Spectra. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.