Изучение динамических и структурных характеристик в облученных кристаллах LiF - Петченко, Г.А. (Вопросы атомной науки и техники, 2013)
Импульсным эхо-методом в частотном диапазоне 37,5…232,5 МГц исследован задемпфированный дислокационный резонанс в кристаллах LiF c остаточной деформацией 0,65 % при Т = 300 К в интервале доз облучения 0…1000 Р. Определены зависимости коэффициента вязкости В и средней эффективной длины дислокационного сегмента L от времени облучения.