Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра

Проведён анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распределённых локальных сосредоточенных сил, действующих параллельно вектору дифракции H на выходную поверхность анализатора LLL-интерферометра. Показано, что формирование новых деформационных муаровых полос происходит в п...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2016
Hauptverfasser: Фодчук, И.М., Новиков, С.Н., Яремчук, И.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2016
Schriftenreihe:Металлофизика и новейшие технологии
Schlagworte:
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/112494
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра / И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, И. В. Яремчук // Металлофизика и новейшие технологии. — 2016. — Т. 38, № 3. — С. 389-403. — Бібліогр.: 26 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-112494
record_format dspace
spelling irk-123456789-1124942017-01-23T03:03:02Z Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра Фодчук, И.М. Новиков, С.Н. Яремчук, И.В. Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом Проведён анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распределённых локальных сосредоточенных сил, действующих параллельно вектору дифракции H на выходную поверхность анализатора LLL-интерферометра. Показано, что формирование новых деформационных муаровых полос происходит в переходной по знаку деформационной области вблизи сосредоточенных сил; форма муаровых полос отражает общее поле смещений, образованное рядом сосредоточенных сил; уменьшение обратной величины периода муаровых полос при удалении от ряда из сосредоточенных сил отражает поведение суммарного деформационного поля. Проведено аналіз впливу на формування муарової картини величини рівномірно розподілених локальних зосереджених сил, що діють паралельно вектору дифракції H на вихідну поверхню аналізатора LLL-інтерферометра. Показано, що формування нових деформаційних муарових смуг відбувається в перехідній за знаком деформаційній області поблизу зосереджених сил; форма муарових смуг відображає загальне поле зміщень, утворене рядом зосереджених сил; зменшення оберненої величини періоду муарових смуг при віддаленні від ряду із зосереджених сил відображає поведінку сумарного деформаційного поля. The analysis of influence of magnitude of evenly distributed local concentrated forces, which act parallel to diffraction vector H on the output surface of analyser of LLL-interferometer, on the formation of moiré pattern is performed. As shown, the formation of new deformation moiré fringes occurs in the transition by the sign deformation area near concentrated forces; form of moiré fringes reflects total displacement field formed by the row of concentrated forces; decrease of reciprocal value of period of moiré fringes at a distance from a row of concentrated forces reflects the behaviour of the total deformation field. 2016 Article Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра / И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, И. В. Яремчук // Металлофизика и новейшие технологии. — 2016. — Т. 38, № 3. — С. 389-403. — Бібліогр.: 26 назв. — рос. 1024-1809 PACS: 07.60.Ly, 41.50.+h, 42.30.Ms, 61.05.cp, 61.72.Ff, 87.59.-e DOI: 10.15407/mfint.38.03.0389 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/112494 ru Металлофизика и новейшие технологии Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
spellingShingle Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
Фодчук, И.М.
Новиков, С.Н.
Яремчук, И.В.
Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
Металлофизика и новейшие технологии
description Проведён анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распределённых локальных сосредоточенных сил, действующих параллельно вектору дифракции H на выходную поверхность анализатора LLL-интерферометра. Показано, что формирование новых деформационных муаровых полос происходит в переходной по знаку деформационной области вблизи сосредоточенных сил; форма муаровых полос отражает общее поле смещений, образованное рядом сосредоточенных сил; уменьшение обратной величины периода муаровых полос при удалении от ряда из сосредоточенных сил отражает поведение суммарного деформационного поля.
format Article
author Фодчук, И.М.
Новиков, С.Н.
Яремчук, И.В.
author_facet Фодчук, И.М.
Новиков, С.Н.
Яремчук, И.В.
author_sort Фодчук, И.М.
title Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
title_short Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
title_full Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
title_fullStr Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
title_full_unstemmed Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра
title_sort воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе lll-интерферометра
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate 2016
topic_facet Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/112494
citation_txt Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра / И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, И. В. Яремчук // Металлофизика и новейшие технологии. — 2016. — Т. 38, № 3. — С. 389-403. — Бібліогр.: 26 назв. — рос.
series Металлофизика и новейшие технологии
work_keys_str_mv AT fodčukim vosproizvedenieostatočnogodeformacionnogopolâvkristalleanalizatorelllinterferometra
AT novikovsn vosproizvedenieostatočnogodeformacionnogopolâvkristalleanalizatorelllinterferometra
AT âremčukiv vosproizvedenieostatočnogodeformacionnogopolâvkristalleanalizatorelllinterferometra
first_indexed 2025-07-08T04:01:19Z
last_indexed 2025-07-08T04:01:19Z
_version_ 1837049871965618176
fulltext 389 PACS numbers: 07.60.Ly, 41.50.+h, 42.30.Ms, 61.05.cp, 61.72.Ff, 87.59.-e Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, И. В. Яремчук  Черновицкий национальный университет им. Юрия Федьковича, ул. Коцюбинского, 2, 50002 Черновцы, Украина Проведён анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распределённых локальных сосредоточенных сил, действую- щих параллельно вектору дифракции H на выходную поверхность анализа- тора LLL-интерферометра. Показано, что формирование новых деформаци- онных муаровых полос происходит в переходной по знаку деформационной области вблизи сосредоточенных сил; форма муаровых полос отражает об- щее поле смещений, образованное рядом сосредоточенных сил; уменьшение обратной величины периода муаровых полос при удалении от ряда из сосре- доточенных сил отражает поведение суммарного деформационного поля. Ключевые слова: LLL-интерферометр, муаровые полосы, сосредоточен- ная сила, деформационное поле. Проведено аналіз впливу на формування муарової картини величини рівно- мірно розподілених локальних зосереджених сил, що діють паралельно ве- ктору дифракції H на вихідну поверхню аналізатора LLL-інтерферометра. Показано, що формування нових деформаційних муарових смуг відбува- ється в перехідній за знаком деформаційній області поблизу зосередже- них сил; форма муарових смуг відображає загальне поле зміщень, утво- рене рядом зосереджених сил; зменшення оберненої величини періоду муарових смуг при віддаленні від ряду із зосереджених сил відображає поведінку сумарного деформаційного поля. Corresponding author: Igor Mykhaylovych Fodchuk E-mail: ifodchuk@ukr.net Yuriy Fedkovych Chernivtsi National University, 2 Kotsiubynsky Str., 58012 Chernivtsi, Ukraine Please cite this article as: I. M. Fodchuk, S. М. Novikov, and I. V. Yaremchuk, Reconstruc- tion of a Residual Strain Field in a Crystal-Analyser of a LLL-Interferometer, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 38, No. 3: 389—403 (2016) (in Russian), DOI: 10.15407/mfint.38.03.0389. Металлофиз. новейшие технол. / Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 2016, т. 38, № 3, сс. 389—403 / DOI: 10.15407/mfint.38.03.0389 Оттиски доступны непосредственно от издателя Фотокопирование разрешено только в соответствии с лицензией 2016 ИМФ (Институт металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины) Напечатано в Украине. 390 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК Ключові слова: LLL-інтерферометр, муарові смуги, зосереджена сила, деформаційне поле. The analysis of influence of magnitude of evenly distributed local concentrated forces, which act parallel to diffraction vector H on the output surface of analys- er of LLL-interferometer, on the formation of moiré pattern is performed. As shown, the formation of new deformation moiré fringes occurs in the transition by the sign deformation area near concentrated forces; form of moiré fringes reflects total displacement field formed by the row of concentrated forces; de- crease of reciprocal value of period of moiré fringes at a distance from a row of concentrated forces reflects the behaviour of the total deformation field. Key words: LLL-interferometer, moiré image, point force, deformation fringes. (Получено 30 ноября 2015 г.) 1. ВВЕДЕНИЕ Развитие рентгеновских дифракционных исследований в последние десятилетия определяется двумя важными факторами – примене- нием мощных монохроматических источников излучения, в пер- вую очередь синхротронных, а также использованием для реги- страции интенсивности высокоразрешающих ССD-детекторов. Та- кие технические достижения науки позволили значительно раз- вить и усовершенствовать экспериментальные методики рентгенов- ской дифрактометрии, топографии и многокристальной интерфе- рометрии [1—4]. Методам рентгеновской многокристальной интерферометрии бо- лее 50 лет [5, 6] и они до сих пор актуальны, особенно при исследо- вании слабопоглощающих объектов, биологических и медицин- ских образцов в фазовой томографии [7, 8], исследовании структур- ной однородности кристаллов и рекордной точности определения их периодов решётки [9, 10]. Вместе с тем, указанные методы имеют существенный недоста- ток – неоднозначность в трактовке муаровых изображений дефор- мационных полей от отдельных дефектов и их комплексов. Это обу- словлено, так называемой фазовой проблемой, возникающей при интерференции когерентных рентгеновских пучков, которые рас- пространяются в областях кристалла с различными структурными несовершенствами [11, 12]. В то же время, на формирование муаро- вой картины влияет много других факторов – макро- и микроде- формационные поля, обусловленные структурным несовершен- ством и неоднородностью кристаллических блоков интерферометра и их отклонениями в геометрических характеристиках (нарушение плоскопараллельности пластин, кристаллографической разориен- тации и т.п.) [13, 14, 15]. ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 391 Развитие динамической теории рентгеновских волн в настоящее время позволяет провести необходимые численные моделирования муаровых картин с заданным полем деформаций [12, 13]. При та- ком подходе из анализа экспериментальных муаровых картин можно получить необходимую количественную информацию об ис- точниках остаточных или действующих деформаций и их распре- делении, а также о характере возможного взаимовлияния [16, 17, 18]. Поэтому, развитие новых теоретических подходов, разработка оригинальных алгоритмов и программного обеспечения для вос- произведения характера остаточного и упругого деформационного поля из анализа муаровых распределений интенсивности в LLL- интерферометрии является актуальной задачей. Целью данной работы является поиск новых подходов и методов решения обратной задачи – воспроизведение возможных источни- ков остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL-интерферометра из анализа характера изменения периодов муаровых полос, их формы и распределений интенсивности. Для этого по известному деформационному полю, образованному ло- кальными источниками деформаций, проводится анализ влияния на формирование муаровой картины величины равномерно распре- делённых локальных сосредоточенных сил, действующих на вы- ходную поверхность анализатора LLL-интерферометра, параллель- но вектору дифракции H. 2. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ Если в одном из компонентов интерферометра (рис. 1) существуют нарушения идеальности кристаллической решётки, то это приведёт к изменению распределения интенсивностей R0 и Rh пучков в плос- кости рассеяния и формированию соответствующей геометрии ин- терференционной картины в анализаторе интерферометра. Зная разность фаз  и изменение периодов  муаровых полос, можно ис- следовать влияние тех или иных факторов на формирование волно- вого поля в анализаторе интерферометра вследствие интерферен- ции когерентных пучков Ehh и E0h, т.е. согласно [12, 15, 16] II I II I 1 2 1 2I I* II I II* I* 0 0 0 0 ( )( ) i i i i h h h h hR E E E e E e E e E e          , (1) I II I II 1 2 1 2II II* I II I* II* 0 0 0 0 0 ( )( ) i i i i h h h hR E E E e E e E e E e          , (2) где I 0 0 0 S M A h E E E E , I S M A h h h h E E E E , II 0 0 0 S M A h E E E E , II 0 S M A h h h E E E E , II 1 0 0 S M A h        , I 2 S M A h h h       , II 2 0 S M A h h        , I 1 0 S M A h h        392 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК результирующие волновые поля вдоль направлений I и II после ди- фракций отражения и преломления (индексы 0 и h соответственно) в пластинах S, М и А LLL-интерферометра (рис. 1). Знак «*» обо- значает комплексно сопряжённую величину,   I  II – разность фаз, набегающую вдоль одного из направлений I или II. Более по- дробно теоретические основы метода численного расчёта муаровых картин изложены в работах [17, 18]. В общем случае фаза дифрагированного интерференционного пучка связана с фазой структурной амплитуды брэгговских отра- жений. Если отражающие плоскости деформированы, то эффек- тивная фаза структурной амплитуды локально модифицируется. Когда такая дифрагированная волна в кристалле интерферирует с другой волной, то изменения интенсивности вдоль сечения пучка отображаются в виде муаровой картины [16, 19]. Если допустить что муаровая картина в трёхкристальном LLL- интерферометре возникает вследствие смещений атомных плоско- стей U только в кристалле-анализаторе, то фазовый сдвиг  между дифрагирующими волнами Ehh и E0h, обусловленный изменением направления вектора дифракции H на  H H , в этом случае равен [12] Рис. 1. Схема рентгеновского LLL-интерферометра: S – расщепитель, М – зеркало, А – анализатор. Fig. 1. Scheme of LLL-interferometer: S–splitter,М–mirror,А–analyser. ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 393 ( ) 2 ( ).    r HU r (3) Если смещение атомных плоскостей не зависит от r, т.е.   , то муаровая картина, возникающая за счёт фазового объекта, будет иметь вид периодических контуров одинаковой интенсивности, перпендикулярных к вектору H . Тогда (3) аналогично выраже- нию   2(x  x0)/ (координата х направлена вдоль вектора H, а  – период фазового муара), для которого различают следующие случаи: а) дилатационного муара, когда в одно из плеч интерферометра вно- сится клиновидный объект, или, если в нём имеется изменение пе- риода решётки d на постоянную величину d, то согласно [20]: 1 2 1 2 2 1 1 1 , 1/ 1/ / D D d d d d d d d d d           H (4а) где DH – проекция H на H; б) ротационного муара, когда при постоянном периоде решётки d изменяется только направление H на угол R:   1 1 1/ 2sin( /2) R R R R d H d          ; (4б) в) смешанного муара, когда H изменяется как по величине, так и по направлению: 2 2 1/ (1/ ) (1/ ) . M D R      (4в) Если поле смещений ( )U r , обусловленное дефектом, зависит от r, то локальное изменение вектора H задаётся выражением [19] ( ).  H HU (5) Рентгеновские топографические изображения после прохожде- ния волнами Ehh и E0h нарушенной области кристалла определяются эффективными разориентациями атомных плоскостей [21]: ( ) 2sin ctgx x U U x z           r H , (6) где z – координата вдоль оси, направленной в кристалл, перпенди- кулярно к поверхности, ось х – антипараллельна вектору H, Ux – компонента поля смещений ( )U r , возникающего при действии ло- кальной нагрузки,  – угол Брэгга. Первое слагаемое в формуле (6) характеризует изменение межплоскостного расстояния вдоль век- тора H, второе описывает локальный изгиб отражающих плоско- 394 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК стей. При действии сосредоточенной силы P на полубесконечную среду вдоль координаты z поле атомных смещений описывается соотно- шением [22]: 2 2 2 2 ( ) (1 2 ) (1 2 ) 2(1 ) , ( ) d x y z P xz x yz y z r r z r zr r r                            U r i i i (7) где 2 2 2 1/2( )r x y z   , xi , yi , zi – единичные орты осей координат,  – коэффициент Пуассона, Pd – значение нагрузки. Соотношение (7) позволяет подбором величины нагрузки Pd, направления действия и областей размещения локальных сил на поверхности кристалла моделировать поля упругих напряжений и деформаций, которые могут возникать в случае наличия остаточ- ных источников деформаций, например, микроцарапин или дисло- кационных скоплений. 3. РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ На рисунке 2 в приближении падающей плоской монохроматиче- ской волны для кристалла Si (отражение (220) CuK1-излучения) представлены рассчитанные муаровые картины для случая дей- ствия на выходную плоскость кристалла-анализатора, параллельно вектору H, семи равномерно расположенных сосредоточенных ло- кальных сил. Муаровые изображения анализировались как без, так и с учётом фазового муара (D  1800 мкм). Величину нагрузки («мощности») P, фигурирующую в подписях к рисункам, в точках приложения силы принимали равной sin , 2 d P P    H  – угол Брэгга  – модуль сдвига. Отметим, что при суммарной мощности локальных источников P  100 значение Pd  0,08, что отвечает об- ласти слабых деформаций. Слабыми по величине деформациями будем считать такие, для которых локальная разориентация атомных плоскостей ( ) r на единицу длины намного меньше полуширины кривой отражения W, нормированной на значение экстинкционной длины ext [15, 21] ext. ( ) . W    r  (8) В этом случае амплитуды E0,h волновых полей медленно изменя- ются и формирование муаровой картины связано, в основном, с их фазовым несоответствием. Это позволяет использовать эйкональное приближение теории Като [23], в которой вектор дифракции H яв- ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 395 ляется функцией пространственных координат и играет роль мед- ленно изменяемого показателя преломления, при этом размер не- однородности L превышает экстинкционную длину ext. Такой под- ход позволяет выделить в амплитудах E0 и Eh быстро изменяющие- ся фазовые множители [24]. В случае сильных деформаций ( ) W   r для нахождения ком- плексных амплитуд Ehh и E0h волн используется система уравнений Такаги [25], для решения которой применяются численные методы [21, 26]. Форма муаровых распределений интенсивности на рис. 2 зависит от величины нагрузки и от периода фазового муара D. На взаимо- действие фазового и «деформационного» муара существенно влияет величина периода D. Фазовый муар сужает область визуализации деформационного муара [18]. Интерференция двух когерентных рентгеновских волн в кри- сталле увеличивает, как лупа, область отображения деформацион- ного поля на рис. 2, а (в разы по сравнению с топографическим изображением на рис. 3, a), посредством формирования характер- ной дугообразной (элипсообразной) системы тёмно-белых по кон- трасту муаровых полос с переменным периодом. На интерференционных распределениях интенсивности (рис. 2, без фазового муара) в зависимости от мощности сосредоточенных сил наблюдаются, как правило, две системы муаровых полос. Пер- вая, в случае относительно слабых нагрузок сформирована вблизи сосредоточенных сил, позволяет наблюдать зарождение так назы- ваемых деформационных муаровых полос в переходной по знаку области (сжатие—растяжение) (рис. 2, а), т.е. отдельные муаровые полосы формируются в тех областях вблизи сосредоточенных сил, где максимальна скорость изменения фазы. При этом формирова- ние системы чёрно-белых муаровых полос вокруг каждой сосредо- точенной силы симметрично относительно центральной силы и от- ражает характер взаимодействия (суперпозиции) их деформацион- ных полей. Это достаточно наглядно следует из формы муарового распределения интенсивности вблизи крайних по обе стороны ряда сосредоточенных сил, которое формируется на относительно боль- ших расстояниях от них. Интересно, что наличие фазового муара (рис. 2, правый ряд) своеобразно влияет на проявление тонкой структуры деформационного муара вблизи сосредоточенной силы. Если на какую-то сосредоточенную силу попадает тёмная или белая полоса фазового муара, то тонкая структура деформационного муа- ра будет с обеих сторон бело-белой или тёмно-тёмной без изменения размеров (рис. 2, б). В противном случае сохранится бело-тёмная или наоборот тёмно-белая структура. При этом сформированные муаровые полосы, отдалённые от крайних сосредоточенных сил, фактически будут подавлены фазовым муаром, то есть влияние де- 396 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК формационной компоненты значительно меньше фазовой. В то же время, имеет место значительное смещение (на половину Рис. 2. Рассчитанные муаровые изображения без (a, в, д, ж) и с фазовым муаром D  1800 мкм (б, г, е, з) для ряда одинаковых локальных сосредо- точенных сил. Расстояние между силами 400 мкм. Величина отдельной сосредоточенной нагрузки: P  1 (а, б) P  3 (в, г) P  5 (д, е), P  10 (ж, з). Si, отражение (220), CuK-излучение. Fig. 2. Calculated moiré images without (a, в, д, ж) and with phase moiré with D  1800 m (б, г, е, з) for the row of equal local concentrated forces. Dis- tance between the forces is 400 m. The value of each local load: P  1 (а, б) P   3 (в, г) P  5 (д, е), P  10 (ж, з). Si, (220) reflection, CuK-radiation. ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 397 периода) фазовой муаровой полосы вблизи крайних сосредоточен- ных сил. Это позволяет оценить их мощность при сопоставлении соответствующих фазовых соотношений. Вторая система муаровых полос возникает при определённых значениях суммарной мощности сосредоточенных сил на значи- тельном расстоянии от ряда, в частности при P  3 и P  5, т.е. когда деформационная компонента значительно превышает фазовую (d  ). На рисунках 2, в и д наглядно показано возникновение но- вых деформационных муаровых полос в области сжатия-растя- жения деформационного поля сосредоточенных сил на следующих по порядку от крайних в ряду сосредоточенных сил. Наличие фазового муара привело к изменению (кроме централь- ной сосредоточенной силы) чередования контраста в системе свет- ло-тёмных полос (рис. 2, в). Если условно принять за правило счи- тать отсчёт чередования контраста от края ряда к центру, то про- изошла смена с бело-чёрного на чёрно-белый контраст. Заметим, Рис. 3. Топографические распределения интенсивности от ряда сосредото- ченных сил в пучке Rh (а, в) и R0 (б, г) LLL-интерферометра. Величина от- дельной сосредоточенной нагрузки: P  1 (а, б), P  5 (в, г), P  10 (д, е). Fig. 3. Topographic intensity distributions of the row of concentrated forces in Rh (а, в) and R0 (б, г) beams of LLL-interferometer. The value of each local load: P  1 (а, б), P  5 (в, г), P  10 (д, е). 398 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК что для всех остальных случаев (различных по величине Р) цен- тральная область всегда будет, согласно принятому правилу, бело- белой. Увеличение мощности сосредоточенных сил до Р  10 (рис. 2, ж, з) демонстрирует динамику возникновения новых муаровых полос вблизи двух соседних сосредоточенных сил в переходных по знаку областях деформации. При этом центральная тёмная фазовая муаровая полоса разделя- ется по обе стороны ряда и охватывает его с обеих сторон (рис. 2, з). Наблюдается значительное смещение на несколько периодов фазо- вого муара центральных (светлых) фазовых муаровых полос по обе стороны ряда сосредоточенных сил. Наличие фазового муара является своеобразным зондом, с помо- щью которого можно оценить по изменению периодов D(x) дефор- мационных или фазовых муаровых полос не только мощность крайних в ряду сосредоточенных сил, но и определить характер па- дения суммарного деформационного поля. На топографических распределениях интенсивности рентгенов- ских волн от ряда сосредоточенных сил на рис. 3 наблюдаем обыч- ную картину двухлепестковых чёрно-белых изображений вдоль вектора дифракции, которые формируются отдельно в окрестности каждой сосредоточенной силы. Расстояние между силами значи- тельное (400 мкм), и поэтому при незначительной нагрузке (Р  1) общее упругое поле воспринимается как суперпозиция дискретных сосредоточенных сил. При этом топографическое изображение на рис. 3 находится в полном соответствии с функцией локальных ра- зориентаций на рис. 4, в. Для значительных деформаций ( ( )  r 2W ), когда фаза и амплитуды преломлённой и дифрагированной волн, интерферирующих в анализаторе LLL-интерферометра, сильно изменяются, нарушается условие их когерентности. В этом случае центральная часть муаровой картины (рис. 2, ж) является результатом суперпозиции интенсивностей соответствующих волн. Следует заметить, что топографическое изображение на рис. 3, д дополняет муаровую картину. Для количественной оценки изменения периодов деформацион- ных муаровых полос в зависимости от мощности сосредоточенных сил, а также влияния на их изменение фазового муара на рис. 5 по- строены профили интенсивности R(x, y), полученные из муаровых картин на рис. 2, ж и рис. 2, з вдоль ряда сосредоточенных сил па- раллельно вектору H и усреднённые в пределах области y0  30 мкм. Поскольку обратная величина периода муаровых полос отражает относительное изменение периода решётки (или деформацию – ( )/ 1/ ( )x d x   ), то имеет смысл провести сопоставление в соответ- ствующих масштабах (х) и зависимостей Ux(x), Ux(x)/x и (x) (рис. 5). ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 399 Анализ таких зависимостей на рис. 5 показывает, что лучшее ка- Рис. 4. Компонента поля смещения от ряда сосредоточенных сил Ux (а), компонента деформации dUx/dx (б), функция локальных разориентаций (x, y) (в) на выходной плоскости кристалла-анализатора LLL-интерферо- метра. Fig. 4. Displacement field component of a row of concentrated forces Ux (а), the component of deformation dUx/dx (б), local misorientation function (x,y) (в) on the output plane of crystal-analyser of LLL-interferometer. 400 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК чественное соответствие характеру убывания обратной величины периода муаровых полос 1/(х), или же (х), даёт зависимость Ux(x)/x. При этом зависимости 1/(х) муаровых полос при нали- чии и в отсутствие фазового муара фактически являются взаимодо- полняющими. Таким образом, проведённое моделирование муаровых картин в случае действия сосредоточенных сил на выходную поверхность кристалла анализатора LLL-интерферометра позволило установить следующее: формирование новых деформационных муаровых по- лос происходит в переходной по знаку деформационной области вблизи сосредоточенных сил; форма муаровых полос отражает об- щее поле смещений ( )U r , образованное рядом сосредоточенных сил; уменьшение обратной величины периода муаровых полос (x) при удалении от крайней сосредоточенной силы отражает зависи- мость Ux(x)/x, которая имеет гиперболический характер убыва- ния. 4. ВЫВОДЫ 1. На интерференционных распределениях интенсивности в зави- Рис. 5. Зависимости изменения вдоль оси Ox усреднённых в области y0   30 мкм значений: 1/ ( – период муаровых полос), Ux – компоненты поля смещения ряда сосредоточенных сил, компоненты деформации dUx/dx, функции локальных разориентаций (x, y). Сплошная линия раз- деляет области проявления деформационного и фазового муара. Fig. 5. Dependences of changes along Ox axis averaged within the region y0   30 m of next values: 1/ ( – moiré fringes period), Ux – displacement field component of a row of concentrated forces, the component of defor- mation dUx/dx, and local misorientation function (x,y). Solid line separates the field of display of deformation and structural moiré. ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 401 симости от мощности сосредоточенных сил наблюдаются, как пра- вило, две системы деформационных муаровых полос, которые фор- мируется в переходных по знаку областях (сжатие—растяжение). Первая система муаровых полос локализована вблизи действия со- средоточенных сил, где максимальная скорость изменения фазы (деформации). Вторая система возникает на значительном удале- нии от ряда сосредоточенных сил при определённых значениях их суммарной мощности. 2. Наличие фазового муара приводит к изменению (кроме цен- тральной сосредоточенной силы) чередования контраста в системе светло-тёмных полос интенсивности, который, в то же время, явля- ется своеобразным зондом, с помощью которого можно оценить не только мощность крайних сосредоточенных сил по изменению пе- риодов муаровых полос, но и определить характер убывания сум- марного деформационного поля. 3. Уменьшение обратной величины периода муаровых полос (x) при удалении от крайней сосредоточенной силы в ряду отражает зависимость суммарного деформационного поля Ux(x)/x и имеет гиперболический характер убывания. ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА 1. L. Brügemann and E. K. E. Gerndt, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A, 531, Nos. 1—2: 292 (2004). 2. V. Holy, U. Pietsch, and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (New York: Springer-Verlag: 2004). 3. A. Snigirev, V. Kohn, I. Snigireva, and B. Lengeler, Phys. Rev. Lett., 103, No. 6: 064801 (2009). 4. S. Kneip, C. McGuffey, J. L. Martins, S. F. Martins, C. Bellei, V. Chvykov, F. Dollar, R. Fonseca, C. Huntington, G. Kalintchenko, A. Maksimchuk, S. P. D. Mangles, T. Matsuoka, S. R. Nagel, C. A. J. Palmer, J. Schreiber, K. T. Phuoc, A. G. R. Thomas, V. Yanovsky, L. O. Silva, K. Krushelnick, and Z. Najmudin, Nature Phys., 6, No. 12: 980 (2010). 5. U. Bonse and M. Hart, Appl. Phys. Lett., 6, No. 8: 155 (1965). 6. В. В. Лидер, Успехи физических наук, 184, № 11: 1217 (2014). 7. A. Momose, W. Yashiro, H. Maikusa, and Yo. Takeda, Optics Express, 17, No. 15: 12540 (2009). 8. P. C. Diemoz, M. Endrizzi, C. E. Zapata, A. Bravin, R. D. Speller, I. K. Robinson, and A. Olivo, J. Instrumentation, 8, No. 6: C06002 (2013). 9. Р. Becker, Rep. Prog. Phys., 64: 1945 (2001). 10. L. Ferroglio, G. Mana, and E. Massa, Optics Express, 16, No. 21: 16877 (2008). 11. З. Г. Пинскер, Рентгеновская кристаллооптика (Москва: Наука: 1982). 12. И. М. Фодчук, Н. Д. Раранский, Я. М. Струк, И. В. Фесив, Металлофиз. новейшие технол., 24, № 5: 617 (2002). 13. A. Authier, S. Lagomarsino, and B. K. Tanner, X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction: Theory and Applications (Boston, MA: Springer: 1997). 402 И. М. ФОДЧУК, С. Н. НОВИКОВ, И. В. ЯРЕМЧУК 14. Н. Д. Раранский, В. П. Шафранюк, И. М. Фодчук, Металлофизика, 7, № 5: 63 (1985). 15. I. M. Fodchuk and M. D. Raransky, J. Phys. D: Appl. Phys., 36: A55 (2003). 16. І. М. Фодчук, М. Д. Раранський, Я. М. Струк, І. В. Фесів, УФЖ, 47, № 11: 1057 (2002). 17. I. M. Fodchuk, S. M. Novikov, and A. Ya. Struk, Proc. SPIE, 8338: 83381B-1 (2011). 18. И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, Я. М. Струк, И. В. Фесив, Металлофиз. но- вейшие технол., 3, № 5: 711 (2013). 19. M. Hart, Philos. Mag., 26, No. 4: 821 (1972). 20. R. D. Deslettes and A. Henins, Phys. Rev. Lett., 31, No. 16: 972 (1973). 21. А. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (New York: Oxford Uni- versity Press: 2001). 22. A. Ляв, Математическая теория упругости (Москва: Физматгиз: 1936). 23. N. Kato, Acta Crystallogr., 16, No. 4: 122 (1963). 24. В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуховський, Успехи физических наук, 6: 238 (1972). 25. S. Takagi, J. Phys. Soc. Jpn., 26, No. 5: 1239 (1969). 26. Y. Epelboin, J. Appl. Crystallogr., 7, No. 3: 372 (1974). REFERENCES 1. L. Brügemann and E. K. E. Gerndt, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A, 531, Nos. 1—2: 292 (2004). 2. V. Holy, U. Pietsch, and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (New York: Springer-Verlag: 2004). 3. A. Snigirev, V. Kohn, I. Snigireva, and B. Lengeler, Phys. Rev. Lett., 103, No. 6: 064801 (2009). 4. S. Kneip, C. McGuffey, J. L. Martins, S. F. Martins, C. Bellei, V. Chvykov, F. Dollar, R. Fonseca, C. Huntington, G. Kalintchenko, A. Maksimchuk, S. P. D. Mangles, T. Matsuoka, S. R. Nagel, C. A. J. Palmer, J. Schreiber, K. T. Phuoc, A. G. R. Thomas, V. Yanovsky, L. O. Silva, K. Krushelnick, and Z. Najmudin, Nature Phys., 6, No. 12: 980 (2010). 5. U. Bonse and M. Hart, Appl. Phys. Lett., 6, No. 8: 155 (1965). 6. V. V. Lider, Uspekhi Fizicheskikh Nauk, 184, No. 11: 1217 (2014) (in Russian). 7. A. Momose, W. Yashiro, H. Maikusa, and Yo. Takeda, Optics Express, 17, No. 15: 12540 (2009). 8. P. C. Diemoz, M. Endrizzi, C. E. Zapata, A. Bravin, R. D. Speller, I. K. Robinson, and A. Olivo, J. Instrumentation, 8, No. 6: C06002 (2013). 9. Р. Becker, Rep. Prog. Phys., 64: 1945 (2001). 10. L. Ferroglio, G. Mana, and E. Massa, Optics Express, 16, No. 21: 16877 (2008). 11. S. G. Pinsker, Rentgenovskaya Kristallooptika [X-Ray Crystal Optics] (Moscow: Nauka: 1982) (in Russian). 12. I. M. Fodchuk, M. D. Rarans’ky, Ya. M. Struk, and I. V. Fesiv, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 24, No. 5: 617 (2002) (in Russian). 13. A. Authier, S. Lagomarsino, and B. K. Tanner, X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction: Theory and Applications (Boston, MA: Springer: 1997). 14. N. D. Raransky, V. P. Shafraniuk, and I. M. Fodchuk, Metallofizika, 7, No. 5: ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ОСТАТОЧНОГО ДЕФОРМАЦИОННОГО ПОЛЯ 403 63 (1985) (in Russian). 15. I. M. Fodchuk and M. D. Raransky, J. Phys. D: Appl. Phys., 36: A55 (2003). 16. I. M. Fodchuk, N. D. Raransky, Ja. M. Struk, and I. V. Fesiv, Ukr. Fiz. Zhurn., 47, No. 11: 1057 (2002) (in Ukrainian). 17. I. M. Fodchuk, S. M. Novikov, and A. Ya. Struk, Proc. SPIE, 8338: 83381B-1 (2011). 18. I. M. Fodchuk, S. N. Novikov, Ya. M. Struk, and I. V. Fesiv, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 3, No. 5: 711 (2013) (in Russian). 19. M. Hart, Philos. Mag., 26, No. 4: 821 (1972). 20. R. D. Deslettes and A. Henins, Phys. Rev. Lett., 31, No. 16: 972 (1973). 21. А. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (New York: Oxford University Press: 2001). 22. A. Lyav, Matematicheskaya Teoriya Uprugosti [Mathematical Theory of Elasticity] (Moscow: Fizmatgiz: 1936) (in Russian). 23. N. Kato, Acta Crystallogr., 16, No. 4: 122 (1963). 24. V. L. Indenbom and F. N. Chukhovskii, Uspekhi Fizicheskikh Nauk, 6, 238 (1972) (in Russian). 25. S. Takagi, J. Phys. Soc. Jpn., 26, No. 5: 1239 (1969). 26. Y. Epelboin, J. Appl. Crystallogr., 7, No. 3: 372 (1974). << /ASCII85EncodePages false /AllowTransparency false /AutoPositionEPSFiles true /AutoRotatePages /None /Binding /Left /CalGrayProfile (Dot Gain 20%) /CalRGBProfile (sRGB IEC61966-2.1) /CalCMYKProfile (U.S. Web Coated \050SWOP\051 v2) /sRGBProfile (sRGB IEC61966-2.1) /CannotEmbedFontPolicy /Error /CompatibilityLevel 1.4 /CompressObjects /Tags /CompressPages true /ConvertImagesToIndexed true /PassThroughJPEGImages true /CreateJobTicket false /DefaultRenderingIntent /Default /DetectBlends true /DetectCurves 0.0000 /ColorConversionStrategy /CMYK /DoThumbnails false /EmbedAllFonts true /EmbedOpenType false /ParseICCProfilesInComments true /EmbedJobOptions true /DSCReportingLevel 0 /EmitDSCWarnings false /EndPage -1 /ImageMemory 1048576 /LockDistillerParams false /MaxSubsetPct 100 /Optimize true /OPM 1 /ParseDSCComments true /ParseDSCCommentsForDocInfo true /PreserveCopyPage true /PreserveDICMYKValues true /PreserveEPSInfo true /PreserveFlatness true /PreserveHalftoneInfo false /PreserveOPIComments true /PreserveOverprintSettings true /StartPage 1 /SubsetFonts true /TransferFunctionInfo /Apply /UCRandBGInfo /Preserve /UsePrologue false /ColorSettingsFile () /AlwaysEmbed [ true ] /NeverEmbed [ true ] /AntiAliasColorImages false /CropColorImages true /ColorImageMinResolution 300 /ColorImageMinResolutionPolicy /OK /DownsampleColorImages true /ColorImageDownsampleType /Bicubic /ColorImageResolution 300 /ColorImageDepth -1 /ColorImageMinDownsampleDepth 1 /ColorImageDownsampleThreshold 1.50000 /EncodeColorImages true /ColorImageFilter /DCTEncode /AutoFilterColorImages true /ColorImageAutoFilterStrategy /JPEG /ColorACSImageDict << /QFactor 0.15 /HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1] >> /ColorImageDict << /QFactor 0.15 /HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1] >> /JPEG2000ColorACSImageDict << /TileWidth 256 /TileHeight 256 /Quality 30 >> /JPEG2000ColorImageDict << /TileWidth 256 /TileHeight 256 /Quality 30 >> /AntiAliasGrayImages false /CropGrayImages true /GrayImageMinResolution 300 /GrayImageMinResolutionPolicy /OK /DownsampleGrayImages true /GrayImageDownsampleType /Bicubic /GrayImageResolution 300 /GrayImageDepth -1 /GrayImageMinDownsampleDepth 2 /GrayImageDownsampleThreshold 1.50000 /EncodeGrayImages true /GrayImageFilter /DCTEncode /AutoFilterGrayImages true /GrayImageAutoFilterStrategy /JPEG /GrayACSImageDict << /QFactor 0.15 /HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1] >> /GrayImageDict << /QFactor 0.15 /HSamples [1 1 1 1] /VSamples [1 1 1 1] >> /JPEG2000GrayACSImageDict << /TileWidth 256 /TileHeight 256 /Quality 30 >> /JPEG2000GrayImageDict << /TileWidth 256 /TileHeight 256 /Quality 30 >> /AntiAliasMonoImages false /CropMonoImages true /MonoImageMinResolution 1200 /MonoImageMinResolutionPolicy /OK /DownsampleMonoImages true /MonoImageDownsampleType /Bicubic /MonoImageResolution 1200 /MonoImageDepth -1 /MonoImageDownsampleThreshold 1.50000 /EncodeMonoImages true /MonoImageFilter /CCITTFaxEncode /MonoImageDict << /K -1 >> /AllowPSXObjects false /CheckCompliance [ /None ] /PDFX1aCheck false /PDFX3Check false /PDFXCompliantPDFOnly false /PDFXNoTrimBoxError true /PDFXTrimBoxToMediaBoxOffset [ 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 ] /PDFXSetBleedBoxToMediaBox true /PDFXBleedBoxToTrimBoxOffset [ 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 ] /PDFXOutputIntentProfile () /PDFXOutputConditionIdentifier () /PDFXOutputCondition () /PDFXRegistryName () /PDFXTrapped /False /CreateJDFFile false /Description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> /CHS <FEFF4f7f75288fd94e9b8bbe5b9a521b5efa7684002000410064006f006200650020005000440046002065876863900275284e8e9ad88d2891cf76845370524d53705237300260a853ef4ee54f7f75280020004100630072006f0062006100740020548c002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee553ca66f49ad87248672c676562535f00521b5efa768400200050004400460020658768633002> /CHT <FEFF4f7f752890194e9b8a2d7f6e5efa7acb7684002000410064006f006200650020005000440046002065874ef69069752865bc9ad854c18cea76845370524d5370523786557406300260a853ef4ee54f7f75280020004100630072006f0062006100740020548c002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee553ca66f49ad87248672c4f86958b555f5df25efa7acb76840020005000440046002065874ef63002> /CZE <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> /DAN <FEFF004200720075006700200069006e0064007300740069006c006c0069006e006700650072006e0065002000740069006c0020006100740020006f007000720065007400740065002000410064006f006200650020005000440046002d0064006f006b0075006d0065006e007400650072002c0020006400650072002000620065006400730074002000650067006e006500720020007300690067002000740069006c002000700072006500700072006500730073002d007500640073006b007200690076006e0069006e00670020006100660020006800f8006a0020006b00760061006c0069007400650074002e0020004400650020006f007000720065007400740065006400650020005000440046002d0064006f006b0075006d0065006e0074006500720020006b0061006e002000e50062006e00650073002000690020004100630072006f00620061007400200065006c006c006500720020004100630072006f006200610074002000520065006100640065007200200035002e00300020006f00670020006e0079006500720065002e> /DEU <FEFF00560065007200770065006e00640065006e0020005300690065002000640069006500730065002000450069006e007300740065006c006c0075006e00670065006e0020007a0075006d002000450072007300740065006c006c0065006e00200076006f006e002000410064006f006200650020005000440046002d0044006f006b0075006d0065006e00740065006e002c00200076006f006e002000640065006e0065006e002000530069006500200068006f006300680077006500720074006900670065002000500072006500700072006500730073002d0044007200750063006b0065002000650072007a0065007500670065006e0020006d00f60063006800740065006e002e002000450072007300740065006c006c007400650020005000440046002d0044006f006b0075006d0065006e007400650020006b00f6006e006e0065006e0020006d006900740020004100630072006f00620061007400200075006e0064002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e00300020006f0064006500720020006800f600680065007200200067006500f600660066006e00650074002000770065007200640065006e002e> /ESP <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> /ETI <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> /FRA <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> /GRE <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a stvaranje Adobe PDF dokumenata najpogodnijih za visokokvalitetni ispis prije tiskanja koristite ove postavke. Stvoreni PDF dokumenti mogu se otvoriti Acrobat i Adobe Reader 5.0 i kasnijim verzijama.) /HUN <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> /ITA <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> /JPN <FEFF9ad854c18cea306a30d730ea30d730ec30b951fa529b7528002000410064006f0062006500200050004400460020658766f8306e4f5c6210306b4f7f75283057307e305930023053306e8a2d5b9a30674f5c62103055308c305f0020005000440046002030d530a130a430eb306f3001004100630072006f0062006100740020304a30883073002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e003000204ee5964d3067958b304f30533068304c3067304d307e305930023053306e8a2d5b9a306b306f30d530a930f330c8306e57cb30818fbc307f304c5fc59808306730593002> /KOR <FEFFc7740020c124c815c7440020c0acc6a9d558c5ec0020ace0d488c9c80020c2dcd5d80020c778c1c4c5d00020ac00c7a50020c801d569d55c002000410064006f0062006500200050004400460020bb38c11cb97c0020c791c131d569b2c8b2e4002e0020c774b807ac8c0020c791c131b41c00200050004400460020bb38c11cb2940020004100630072006f0062006100740020bc0f002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e00300020c774c0c1c5d0c11c0020c5f40020c2180020c788c2b5b2c8b2e4002e> /LTH <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> /LVI <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> /NLD (Gebruik deze instellingen om Adobe PDF-documenten te maken die zijn geoptimaliseerd voor prepress-afdrukken van hoge kwaliteit. De gemaakte PDF-documenten kunnen worden geopend met Acrobat en Adobe Reader 5.0 en hoger.) /NOR <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> /POL <FEFF0055007300740061007700690065006e0069006100200064006f002000740077006f0072007a0065006e0069006100200064006f006b0075006d0065006e007400f300770020005000440046002000700072007a0065007a006e00610063007a006f006e00790063006800200064006f002000770079006400720075006b00f30077002000770020007700790073006f006b00690065006a0020006a0061006b006f015b00630069002e002000200044006f006b0075006d0065006e0074007900200050004400460020006d006f017c006e00610020006f007400770069006500720061010700200077002000700072006f006700720061006d006900650020004100630072006f00620061007400200069002000410064006f00620065002000520065006100640065007200200035002e0030002000690020006e006f00770073007a0079006d002e> /PTB <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> /RUM <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> /RUS <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> /SKY <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> /SLV <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> /SUO <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> /SVE <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> /TUR <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> /UKR <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> /ENU (Use these settings to create Adobe PDF documents best suited for high-quality prepress printing. Created PDF documents can be opened with Acrobat and Adobe Reader 5.0 and later.) >> /Namespace [ (Adobe) (Common) (1.0) ] /OtherNamespaces [ << /AsReaderSpreads false /CropImagesToFrames true /ErrorControl /WarnAndContinue /FlattenerIgnoreSpreadOverrides false /IncludeGuidesGrids false /IncludeNonPrinting false /IncludeSlug false /Namespace [ (Adobe) (InDesign) (4.0) ] /OmitPlacedBitmaps false /OmitPlacedEPS false /OmitPlacedPDF false /SimulateOverprint /Legacy >> << /AddBleedMarks false /AddColorBars false /AddCropMarks false /AddPageInfo false /AddRegMarks false /ConvertColors /ConvertToCMYK /DestinationProfileName () /DestinationProfileSelector /DocumentCMYK /Downsample16BitImages true /FlattenerPreset << /PresetSelector /MediumResolution >> /FormElements false /GenerateStructure false /IncludeBookmarks false /IncludeHyperlinks false /IncludeInteractive false /IncludeLayers false /IncludeProfiles false /MultimediaHandling /UseObjectSettings /Namespace [ (Adobe) (CreativeSuite) (2.0) ] /PDFXOutputIntentProfileSelector /DocumentCMYK /PreserveEditing true /UntaggedCMYKHandling /LeaveUntagged /UntaggedRGBHandling /UseDocumentProfile /UseDocumentBleed false >> ] >> setdistillerparams << /HWResolution [2400 2400] /PageSize [612.000 792.000] >> setpagedevice