Gaidar, G., Berdnichenko, S., Vorobyov, V., Kochkin, V., Lastovetskiy, V., & Litovchenko, P. (2016). Influence of the surface electronic processes on the spectrometric characteristics of silicon detectors. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gaidar, G.P, S.V Berdnichenko, V.G Vorobyov, V.I Kochkin, V.F Lastovetskiy, та P.G Litovchenko. Influence of the Surface Electronic Processes on the Spectrometric Characteristics of Silicon Detectors. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gaidar, G.P, et al. Influence of the Surface Electronic Processes on the Spectrometric Characteristics of Silicon Detectors. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2016.