Amer, H., Elkordy, M., Zien, M., Dahshan, A., & Elshamy, R. (2011). Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Amer, H.H, M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, та R.A Elshamy. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Amer, H.H, et al. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.