APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Amer, H., Elkordy, M., Zien, M., Dahshan, A., & Elshamy, R. (2011). Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Amer, H.H, M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, und R.A Elshamy. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Amer, H.H, et al. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.