APA (7th ed.) Citation

Amer, H., Elkordy, M., Zien, M., Dahshan, A., & Elshamy, R. (2011). Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Amer, H.H, M. Elkordy, M. Zien, A. Dahshan, and R.A Elshamy. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.

MLA (8th ed.) Citation

Amer, H.H, et al. Characterization of Quaternary Chalcogenide As-Ge-Te-Si Thin Films. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.