Sghaier, H., Bouzaiene, L., Sfaxi, L., & Maaref, H. (2004). RHEED digital image analysis system for in-situ growth rate and alloy composition measurements of GaAs-based nanostructures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Sghaier, H., L. Bouzaiene, L. Sfaxi, та H. Maaref. RHEED Digital Image Analysis System for In-situ Growth Rate and Alloy Composition Measurements of GaAs-based Nanostructures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2004.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Sghaier, H., et al. RHEED Digital Image Analysis System for In-situ Growth Rate and Alloy Composition Measurements of GaAs-based Nanostructures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2004.