Fodchuk, І., Dovganyuk, V., Litvinchuk, Т., Kladko, V., Slobodian, М., Gudymenko, O., & Swiatek, Z. (2010). Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Fodchuk, І.М, V.V Dovganyuk, Т.V Litvinchuk, V.P Kladko, М.V Slobodian, O.Yo Gudymenko, та Z. Swiatek. Structural Changes in Cz-Si Single Crystals Irradiated with High-energy Electrons from Data of High-resolution X-ray Diffractometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Fodchuk, І.М, et al. Structural Changes in Cz-Si Single Crystals Irradiated with High-energy Electrons from Data of High-resolution X-ray Diffractometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2010.