Kovalenko, S., & Lisitsa, M. (2001). Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kovalenko, S.A, та M.P Lisitsa. Thickness Dependences of Optical Constants for Thin Layers of Some Metals and Semiconductors. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kovalenko, S.A, та M.P Lisitsa. Thickness Dependences of Optical Constants for Thin Layers of Some Metals and Semiconductors. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.