Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
Polycrystalline fullerite С₆₀ intercalated with Xe atoms at 575 K and a pressure of 200 MPa was studied by powder x-ray diffraction. The integrated intensities of a few brighter reflections have been utilized to evaluate the occupancy of the octahedral interstitial sites in С₆₀ crystals, which turne...
Gespeichert in:
| Datum: | 2005 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2005
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121465 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction / A.I. Prokhvatilov, N.N. Galtsov, I.V. Legchenkova, M. A. Strzhemechny, D. Cassidy, G.E. Gadd, S. Moricca, B. Sundqvist, N.A. Aksenova // Физика низких температур. — 2005. — Т. 31, № 5. — С. 585-589. — Бібліогр.: 27 назв. — англ. |