Ievtukh, V., Ulyanov, V., & Nazarov, A. (2016). The charge trapping/emission processes in silicon nanocrystalline nonvolatile memory assisted by electric field and elevated temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Ievtukh, V.A, V.V Ulyanov, та A.N Nazarov. The Charge Trapping/emission Processes in Silicon Nanocrystalline Nonvolatile Memory Assisted by Electric Field and Elevated Temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Ievtukh, V.A, et al. The Charge Trapping/emission Processes in Silicon Nanocrystalline Nonvolatile Memory Assisted by Electric Field and Elevated Temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.