APA (7th ed.) Citation

Ievtukh, V., Ulyanov, V., & Nazarov, A. (2016). The charge trapping/emission processes in silicon nanocrystalline nonvolatile memory assisted by electric field and elevated temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Ievtukh, V.A, V.V Ulyanov, and A.N Nazarov. The Charge Trapping/emission Processes in Silicon Nanocrystalline Nonvolatile Memory Assisted by Electric Field and Elevated Temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.

MLA (8th ed.) Citation

Ievtukh, V.A, et al. The Charge Trapping/emission Processes in Silicon Nanocrystalline Nonvolatile Memory Assisted by Electric Field and Elevated Temperatures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.