Odarych, V., Sarsembaeva, A., Vuichyk, M., & Sizov, F. (2006). Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Odarych, V.A, A.Z Sarsembaeva, M.V Vuichyk, та F.F Sizov. Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Odarych, V.A, et al. Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.