APA (7th ed.) Citation

Odarych, V., Sarsembaeva, A., Vuichyk, M., & Sizov, F. (2006). Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Odarych, V.A, A.Z Sarsembaeva, M.V Vuichyk, and F.F Sizov. Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.

MLA (8th ed.) Citation

Odarych, V.A, et al. Determination of Parameters of Cadmium Telluride Films on Silicon by the Methods of Main Angle and Multiangular Ellipsometry. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2006.