Микроконтактная спектроскопия релаксационной динамики двухуровневых систем при структурной перестройке металлических стекол Ni-Nb
В диапазоне частот 10³-5×10⁹ Гц исследованы микроконтактные спектры (зависимости вторых производных вольт-амперных характеристик от энергии) биметаллических контактов аморфного сплава Ni₅₉Nb41 с серебром. При малых энергиях в микроконтактах из закаленного сплава спектральная особенность, условленная...
Збережено в:
| Дата: | 2003 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2003
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128790 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Микроконтактная спектроскопия релаксационной динамики двухуровневых систем при структурной перестройке металлических стекол Ni-Nb / О.П. Балкашин, И.К. Янсон, А. Халбриттер, Г. Михали // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 169-178. — Бібліогр.: 35. назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | В диапазоне частот 10³-5×10⁹ Гц исследованы микроконтактные спектры (зависимости вторых производных вольт-амперных характеристик от энергии) биметаллических контактов аморфного сплава Ni₅₉Nb41 с серебром. При малых энергиях в микроконтактах из закаленного сплава спектральная особенность, условленная рассеянием электронов проводимости на двухуровневых туннельных системах (ДУС), четко наблюдается в СВЧ диапазоне. Это подтверждает полученный нами ранее для гомоконтактов (O.P.Balkashin et al., Solid StateCommun. 118, 623 (2001)) вывод о наличии в металлических стеклах быстро релаксирующих ДУС с характерной частотой релаксации Г > 10¹¹ Гц. После высокотемпературного отжига аморфного сплава (Т = 800°С в течение 1 ч) и его кристаллизации интенсивность спектральной особенности в области малых напряжений на контакте существенно возросла. Обнаружена резкая частотная дисперсия амплитуды этой особенности вплоть до полного ее исчезновения при измерениях на частотах до ~ 5×10⁹ Гц. Полученные данные свидетельствуют об образовании в отожженных аморфных сплавах Ni-Nb качественно новых медленно релаксирующих ДУС. Оценка характерной частоты релаксации этих ДУС по частотной дисперсии измеряемого сигнала дает значение Г/2p » 0,7×10⁹ Гц. Обсуждаются возможные причины образования двухуровневых систем в микроконтактах. |
|---|