Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем - Молодкин, В.Б.; Низкова, А.И.; Богданов, Е.И.; Дмитриев, С.В.; Лизунов, В.В.; Скакунова, Е.С.; Толмачев, Н.Г.; Василик, Я.В.; Карпов, А.Г.; Войток, О.Г.; Почекуев, В.П. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2017)
Разработан и реализован практически на основе использования обнаруженных эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции подход для неразрушающей диагностики профиля неоднородного распределения микродефектов в монокристаллах. В частности, впервые получен профиль распределения микродефектов (преципитатов и дислокационных петель без ограничений на их размеры) по глубине динамически рассеивающего слоя монокристалла, а также показана принципиальная возможность и фактически определена кинетика изменения его сложной структуры после обработки высокоэнергетическими электронами.