Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем
Разработан и реализован практически на основе использования обнаруженных эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции подход для неразрушающей диагностики профиля неоднородного распределения микродефектов в монокристаллах. В частности, впервые...
Gespeichert in:
Datum: | 2017 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | Russian |
Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2017
|
Schriftenreihe: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133185 |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Zitieren: | Создание основ интегральной динамической дифрактометрии микро- и нанонеоднородностей структуры кристаллов с дефектами и нарушенным поверхностным слоем / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, Е.И. Богданов, С.В. Дмитриев, В.В. Лизунов, Е.С. Скакунова, Н.Г. Толмачев, Я.В. Василик, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуев // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2017. — Т. 15, № 2. — С. 261-275. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |