Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств - Верлань, А.Ф.; Положаенко, С.А.; Дячук, А.А. (Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки, 2017)
В работе показана возможность практического применения метода обучающих и проверочных характеристик в задачах локализации неисправных подсхем ЭУ как в случае линейного, так и нелинейного исполнения последних.