Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами

Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорга...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2015
Main Authors: Рудяк, Ю.А., Підгурський, М.І.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України 2015
Series:Фізико-хімічна механіка матеріалів
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135159
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine