Kim, C., Lee, S., Wang, B., & Xu, X. (2004). Radiological characterization of metal oxide semiconductor field effect transistor dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Kim, Chan-Hyeong, Sang-Hoon Lee, Baodong Wang, und X.George Xu. Radiological Characterization of Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2004.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Kim, Chan-Hyeong, et al. Radiological Characterization of Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2004.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.