APA (7th ed.) Citation

Kim, C., Lee, S., Wang, B., & Xu, X. (2004). Radiological characterization of metal oxide semiconductor field effect transistor dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Kim, Chan-Hyeong, Sang-Hoon Lee, Baodong Wang, and X.George Xu. Radiological Characterization of Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2004.

MLA (8th ed.) Citation

Kim, Chan-Hyeong, et al. Radiological Characterization of Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Dosimeter. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2004.