Феноменологическая модель казимировского притяжения металлической пленки
С использованием техники квантовой теории поля изучается сила поверхностного взаимодействия (эффект Казимира), возникающего между массивным проводником и металлической пленкой, расположенной на диэлектрической подложке. Толщина пленки предполагается много меньше глубины скин-слоя на характерных част...
Збережено в:
| Дата: | 1999 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1999
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139343 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Феноменологическая модель казимировского притяжения металлической пленки / В.Н. Дубрава, В.А. Ямпольский // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 12. — С. 1304-1312. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | С использованием техники квантовой теории поля изучается сила поверхностного взаимодействия (эффект Казимира), возникающего между массивным проводником и металлической пленкой, расположенной на диэлектрической подложке. Толщина пленки предполагается много меньше глубины скин-слоя на характерных частотах флуктуационных полей. Уравнения для одночастичной функции Грина электромагнитного поля внутри металлической пленки решены в рамках простой феноменологической модели. А именно, сложные макроскопические электродинамические свойства пленки описаны введением поверхностной диэлектрической проницаемости, которая определяется средней по толщине проводимостью < s >. В рамках такой модели предсказана зависимость силы казимировского притяжения от значения параметра зеркальности r , характеризующего взаимодействие электронов проводимости с поверхностью пленки. Результаты проведенного исследования демонстрируют принципиальную возможность экспериментального изучения электронных и поверхностных свойств металлических пленок с помощью измерения силы их казимировского притяжения. |
|---|