Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-...
Gespeichert in:
| Datum: | 2005 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Schriftenreihe: | Functional Materials |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |