Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения
Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешение...
Saved in:
| Date: | 2010 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/15720 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения / А.В. Щагин // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 2. — С. 197-199. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |