Филатов, Ю., Сидорко, В., Ковалев, С., Филатов, А., & Монтей, Г. (2017). Мониторинг точности формы плоских поверхностей в процессе полирования деталей оптики и микроэлектроники. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Филатов, Ю.Д, В.И Сидорко, С.В Ковалев, А.Ю Филатов, та Г Монтей. Мониторинг точности формы плоских поверхностей в процессе полирования деталей оптики и микроэлектроники. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2017.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Филатов, Ю.Д, et al. Мониторинг точности формы плоских поверхностей в процессе полирования деталей оптики и микроэлектроники. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2017.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.