Быткин, С. (2018). Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Быткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Быткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.