Быткин, С. (2018). Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Быткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Быткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.