Быткин, С. (2018). Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationБыткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.
MLA (8th ed.) CitationБыткин, С.В. Экспериментально-статистическое моделирование применения радиационно-технологических процессов для замедления деградации UOL биполярных интегральных микросхем в полях ионизирующих злучений. Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України, 2018.