Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле
Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скры...
Збережено в:
| Дата: | 2017 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2017
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175179 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Решетки поверхностных нанокластеров SnTe на ситалле / Я.П. Салий, Н.И. Бушков, И.С. Былина // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 9. — С. 1363-1367. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Представлены результаты исследования атомно-силовой микроскопии изображений кристаллического SnTe, конденсированного на подложки ситалла. Впервые для анализа полученных результатов последовательно использованы двумерные прямое и обратное по интенсивным частотам преобразования Фурье. Установлена скрытая периодичность в расположении объектов на поверхности пленки, которая подтверждается двумерной автокорреляционной функцией изображения. К распределению азимутального угла вектора
нормали к поверхности применено одномерное преобразование Фурье. Установлено, что поверхность конденсата имеет неизменный набор элементов симметрии, хотя размеры поверхностных объектов монотонно
зависят от времени осаждения. Выполнена аппроксимация распределения полярного угла вектора нормали
единственной одномодальной функцией, форма которой не зависит от времени осаждения. |
|---|