Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии - Найдюк, Ю.Г.; Квитницкая, О.Е.; Новак, А.; Янсон, И.К.; Меновский, А.А. (Физика низких температур, 1995)
Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений.