Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии
Проведены измерения дифференциального сопротивления DV/DI(V) микроконтактов на основе соединения с тяжелыми фермионами (СТФ) URu₂Si₂ в области температур 1,5-20 К вдоль двух главных кристаллографических направлений....
Saved in:
| Date: | 1995 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Series: | Физика низких температур |
| Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175272 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Анизотропия микроконтактных характеристик URu₂Si₂ в нормальном состоянии / Ю.Г. Найдюк, О.Е. Квитницкая, А. Новак, И.К. Янсон, А.А. Меновский // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 3. — С. 310-315. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |