Корреляции низкотемпературных аномалий микропластичности со структурными превращениями в кристаллах С₆₀
На кристаллах особо чистого С₆₀ изучены решеточная структура, микротвердость и системы легкой) скольжения в температурном интервале 30-290 К, включающем фазовый переход ГЦК -> ПК с Тс = 260 К и область существования ориентационного стекла Т < 100 К. Зарегистрировано ступенчатое изменение парам...
Gespeichert in:
| Datum: | 1995 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1995
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175749 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Корреляции низкотемпературных аномалий микропластичности со структурными превращениями в кристаллах С₆₀ / Л.С. Фоменко, В.Д. Нацик, С.В. Лубенец, В.Г. Лирцман, Н.А. Аксенова, А.П. Исакина, А.И. Прохватилов, М.А. Стржемечный, Р.С. Руофф // Физика низких температур. — 1995. — Т. 21, № 4. — С. 465-468. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | На кристаллах особо чистого С₆₀ изучены решеточная структура, микротвердость и системы легкой) скольжения в температурном интервале 30-290 К, включающем фазовый переход ГЦК -> ПК с Тс = 260 К и область существования ориентационного стекла Т < 100 К. Зарегистрировано ступенчатое изменение параметра решетки и микротвердости при переходе через Тс и образование вблизи отпечатка индентора линий скольжения в обеих фазах. Показано, что действующая при комнатной температуре в ГПК фазе система скольжения <110>{111} сохраняет активность и ниже Тс в ПК фазе. В области формирования ориентационного стекла обнаружена аномалия в виде излома на температурной зависимости микротвсрдости, которая коррелирует со слабой аномалией на температурной зависимости параметра решетки. Сформулированы предположения о характере движения дислокаций в кристаллах С₆₀, позволяющие объяснить наблюдаемые особенности микропластичности. |
|---|