Усиление полос поглощения в инфракрасных спектрах низкотемпературных пленок урацила с помощью интерференции
Предложен экспериментальный метод, позволяющий существенно усилить полосы в ИК спектрах поглощения низкотемпературных пленок, используя стандартную аппаратуру матричной изоляции. Эффект достигается за счет интерференционного усиления электромагнитной волны при использовании подслоя из пленки аргон...
Gespeichert in:
Datum: | 2018 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | Russian |
Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2018
|
Schriftenreihe: | Физика низких температур |
Schlagworte: | |
Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176499 |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Zitieren: | Усиление полос поглощения в инфракрасных спектрах низкотемпературных пленок урацила с помощью интерференции / А.Ю. Иванов, А.М. Плохотниченко, В.А. Карачевцев // Физика низких температур. — 2018. — Т. 44, № 11. — С. 1554-1558. — Бібліогр.: 28 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineZusammenfassung: | Предложен экспериментальный метод, позволяющий существенно усилить полосы в ИК спектрах поглощения низкотемпературных пленок, используя стандартную аппаратуру матричной изоляции. Эффект
достигается за счет интерференционного усиления электромагнитной волны при использовании подслоя
из пленки аргона. В диапазоне 2000–500 см⁻¹ с разрешением 3 см⁻¹ получены ИК фурье-спектры низкотемпературных пленок молекул урацила (Ur). При низких температурах были выращены тонкие пленки
Ur толщиной около 0,3 мкм на поверхности пленок аргона толщиной 2,3 и 1,1 мкм. Для первой бислойной структуры зарегистрировано усиление в спектральной области 1250–500 см⁻¹
, а для второй — в диапазоне 2000–500 см⁻¹
. Благодаря усилению в спектре низкотемпературной пленки урацила впервые зарегистрированы полосы поглощения в области внеплоскостных деформационных колебаний 1000–500 см⁻¹
.
Установлено, что внеплоскостные фундаментальные моды NH групп Ur наиболее чувствительны к изменениям кристаллической структуры пленки. Показано, что спектр поглощения отогретой до комнатной
температуры пленки Ur отличается от спектра кристалла Ur, полученного из раствора, что свидетельствует о различии в их структурах. |
---|