Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности - Прохоров, В.Г. (Физика низких температур, 1998)
Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы.