Васько, А., Циковкин, Е., & Краснов, Ю. (1983). Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза. Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationВасько, А.Т, Е.М Циковкин, and Ю.С Краснов. Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза. Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України, 1983.
MLA (8th ed.) CitationВасько, А.Т, et al. Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза. Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України, 1983.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.