Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Saved in:
Bibliographic Details
Date:1983
Main Authors: Васько, А.Т., Циковкин, Е.М., Краснов, Ю.С.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 1983
Series:Украинский химический журнал
Subjects:
Электрохимия
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Similar Items