Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей

Представлены сравнительные данные аналитических возможностей масс-спектрометрических и атомно-эмиссионных спектральных методов с различными плазменными источниками возбуждения и ионизации (ИСП-МС, ИСП-АЭС, ДПТ-АЭС и ДДП-АЭС) для многоэлементного анализа высокочастотных веществ с предварительным конц...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2005
Hauptverfasser: Сапрыкин, А.И., Шелпакова, И.Р.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 2005
Schriftenreihe:Украинский химический журнал
Schlagworte:
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/184029
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Методы анализа высокочистых материалов с предварительным концентрированием примесей / А.И. Сапрыкин, И.Р. Шелпакова // Украинский химический журнал. — 2005. — Т. 71, № 10. — С. 104-112. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine