Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂]
Исследовано анодное поведениe серебра в растворе комплекса K[Ag(CN)₂]. На основании полученных данных сделано предположение, что полная пассивация серебра в этом растворе происходит за счет образования плотного пассивного слоя Ag₂O с полупроводниковыми свойствами....
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України
2006
|
| Назва видання: | Украинский химический журнал |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/185100 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] / С.В. Бык, О.Л. Берсирова // Украинский химический журнал. — 2006. — Т. 72, № 1. — С. 72-74. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-185100 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1851002022-09-01T01:26:28Z Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] Бык, С.В. Берсирова, О.Л. Электрохимия Исследовано анодное поведениe серебра в растворе комплекса K[Ag(CN)₂]. На основании полученных данных сделано предположение, что полная пассивация серебра в этом растворе происходит за счет образования плотного пассивного слоя Ag₂O с полупроводниковыми свойствами. Досліджено анодну поведінку срібла у розчині комплексу K[Ag(CN)₂]. На основі отриманих даних зроблено припущення, що повна пасивація у цьому розчині відбувається за рахунок утворення суцільного шару Ag₂O з напівпровідниковими властивостями. Investigation data of silver anodic behavior in the K[Ag(CN)₂] solution was made in the present paper. On the basis of polarization curves there was a hypothesis of compact Ag₂O film formation with semiconductor properties. 2006 Article Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] / С.В. Бык, О.Л. Берсирова // Украинский химический журнал. — 2006. — Т. 72, № 1. — С. 72-74. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 0041–6045 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/185100 541.138.2 ru Украинский химический журнал Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Электрохимия Электрохимия |
| spellingShingle |
Электрохимия Электрохимия Бык, С.В. Берсирова, О.Л. Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] Украинский химический журнал |
| description |
Исследовано анодное поведениe серебра в растворе комплекса K[Ag(CN)₂]. На основании полученных данных сделано предположение, что полная пассивация серебра в этом растворе происходит за счет образования плотного пассивного слоя Ag₂O с полупроводниковыми свойствами. |
| format |
Article |
| author |
Бык, С.В. Берсирова, О.Л. |
| author_facet |
Бык, С.В. Берсирова, О.Л. |
| author_sort |
Бык, С.В. |
| title |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] |
| title_short |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] |
| title_full |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] |
| title_fullStr |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] |
| title_full_unstemmed |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] |
| title_sort |
анодное поведение серебра в присутствии комплекса k[ag(cn)₂] |
| publisher |
Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України |
| publishDate |
2006 |
| topic_facet |
Электрохимия |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/185100 |
| citation_txt |
Анодное поведение серебра в присутствии комплекса K[Ag(CN)₂] / С.В. Бык, О.Л. Берсирова // Украинский химический журнал. — 2006. — Т. 72, № 1. — С. 72-74. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
| series |
Украинский химический журнал |
| work_keys_str_mv |
AT byksv anodnoepovedenieserebravprisutstviikompleksakagcn2 AT bersirovaol anodnoepovedenieserebravprisutstviikompleksakagcn2 |
| first_indexed |
2025-07-16T05:37:00Z |
| last_indexed |
2025-07-16T05:37:00Z |
| _version_ |
1837780666610089984 |
| fulltext |
of the hydrogen peroxide decomposition process. The
value of a constant of speed of reaction at the presence
of various samples makes (1—5)⋅10–4, that the order
is higher, than at the samples received in the chemical
way. The most active samples are containing a lot of
hydroxide groups.
1. Киселев Е. С., Патрушева Т . Н . // Современные
проблемы радиоэлектроники: Cб. науч. тр. -Крас-
ноярск: ЧПЦКГГУ, 2003. -С. 376—378.
2. Jiang Rongzhong, Don Shaojun. // J. Electrochem.
Soc. -1992. -139, № 10. -P. 2751—2755.
3. Kanungo S .V., Parida K.M ., Sant B.R . // Electrochim.
Acta. -1981. -26, № 8. -P. 1157—1167.
4. Спожакина А .А ., Костова Т .Х . и др. // Кинетика
и катализ. -1994. -35, № 6. -C. 924—927.
Институт общей и неорганической химии Поступила 25.07.2005
им. В.И . Вернадского НАН Украины, Киев
УДК 541.138.2
С.В. Бык, О.Л. Берсирова
АНОДНОЕ ПОВЕДЕНИЕ СЕРЕБРА В ПРИСУТСТВИИ КОМПЛЕКСА K[Ag(CN)2]
Исследовано анодное поведениe серебра в растворе комплекса K[Ag(CN)2]. На основании полученных дан-
ных сделано предположение, что полная пассивация серебра в этом растворе происходит за счет образования
плотного пассивного слоя Ag2O с полупроводниковыми свойствами.
Интерес к изучению поведения серебра в рас-
творах электролитов, не содержащих свободного
цианида, обусловлен все возрастающим внима-
нием к экологически безопасным методам произ-
водства. Нестабильность работы этих электроли-
тов проявляется в пассивировании анодов и
неспособности сохранять рабочие характеристи-
ки при длительной эксплуатации. Попытки уст-
ранить пассивацию с помощью добавок к раст-
вору K[Ag(CN)2] роданистых солей не дали по-
ложительных результатов. Хотя пассивация и
была устранена , но при эксплуатации такого
электролита происходило накопление роданис-
того комплекса, что приводило к ухудшению ка-
чества осадков [1, 2]. Как отмечается в работе
[3], явление пассивации наблюдалось и в циани-
стых растворах.
Электролит на основе комплекса K[Ag(CN)2],
стойкость которого обеспечивается наличием бо-
ратно-фосфатно-карбонатного (БФК ) буфера
большой емкости, является одним из наиболее
перспективных в замене цианистых электролитов
для функциональных покрытий. Из него полу-
чают качественные осадки серебра, которые по
некоторым характеристикам превосходят покры-
тия, полученные из других известных электро-
литов серебрения. Недостатком такого электро-
лита является пассивация анодов, поэтому его
используют лишь с применением нерастворимых
анодов, что приводит к частой корректировке по
содержанию серебра.
Для устранения пассивации анодов необхо-
димо знание механизма и кинетики этого процес-
са. Настоящая работа посвящена исследованию
анодного поведения серебра в растворах комп-
лекса K[Ag(CN)2].
Исследования проводили в стеклянной тер-
мостатируемой трехэлектродной ячейке ЯСЭ-3,
используя потенциостат ПИ 50-1.1. Поляризаци-
онные кривые регистрировали с помощью само-
писца ЛКД 4-003. Рабочим электродом служила
пластинка серебра марки Ср999 площадью 1 см2.
Перед каждым опытом электрод обезжиривали,
травили в азотной кислоте, промывали в дистил-
лированной воде. В качестве электрода сравне-
ния использовали хлорсеребряный электрод, сое-
диненный с рабочим раствором с помощью со-
левого моста и капилляра Луггина. Растворы
K[Ag(CN)2] и КОН готовили на основе реактивов
марки х.ч. и дистиллированной воды.
В растворах БФК электролита серебрения
при использовании серебряных анодов наблю-
далась их полная пассивация. В процессе иссле-
дования было выяснено, что пассивация обусло-
влена присутствием комплекса K[Ag(CN)2]. Поэ-
тому дальнейшие исследования проводили в
растворе комплексной соли и сравнивали с пове-
дением серебра в других растворах. Специфика
© С.В. Бык, О.Л. Берсирова , 2006
72 ISSN 0041-6045. УКР. ХИМ . ЖУРН . 2006. Т. 72, № 1
пассивации серебра в растворе комплексной со-
ли заключалась в образовании плотного пассив-
ного слоя, отсутствии на анодных кривых пере-
хода в транспассивное состояние. Чтобы выяс-
нить, какую природу имеет пассивация в данном
случае: образование фазового оксида, солевой
пленки — AgCN или оксидно-солевой пленки,
были изучены анодные поляризационные кри-
вые и циклические вольтамперограммы в рас-
творах K[Ag(CN)2] и КОН .
На рис. 1 приведены циклические вольт-ам-
перные кривые, полученные на серебре в раство-
рах КОН и K[Ag(CN)2]. В растворе КОН на цик-
лической кривой наблюдаются два анодных и
два катодных пика, которые, по всей видимости,
соответствуют образованию Ag2O, AgO и их после-
дующему восстановлению (кривая 1). Это пред-
положение согласуется с данными авторов рабо-
ты [4]. На поверхности пленки оксида серебра
черного цвета при соответствующем потенциале
поляризации наблюдается выделение кислоро-
да. На циклической вольтамперограмме, получен-
ной в растворе соли K[Ag(CN)2], также наблю-
даются анодные и катодные пики (кривая 2). Пос-
ле катодной поляризации на обратном ходе кри-
вой первый анодный пик соответствует раство-
рению серебра по реакции Ag + CN– → AgCN+
+ e– [5]. На стационарной анодной поляризаци-
онной кривой этот пик отсутствует, так как рав-
новесный потенциал серебра положительнее и
составляет 0.2 В. Свободный цианид, необходи-
мый для прохождения этой реакции, образуется
вследствие разряда на катоде комплексного ио-
на [Ag(CN)2]–. Второй анодный пик, очевидно,
соответствует образованию Ag2O. После обра-
зования оксида дальнейших процессов не наблю-
дается, величина анодного тока постоянно уме-
ньшается. На обратном ходе кривой, после анод-
ной поляризации, в области потенциалов обра-
зования оксида наблюдается пробой анодного
тока, величина которого во много раз превышает
ток пассивации. На катодной кривой наблюда-
ется лишь один пик, соответствующий восстанов-
лению оксида серебра, после которого идет раз-
ряд комплекса.
Вольт-амперные характеристики серебра, по-
крытого оксидной пленкой в растворе соли
K[Ag(CN)2], сходны с таковыми полупроводнико-
вых диодов. Низкой проводимостью пленки при
анодной поляризации объясняется отсутствие даль-
нейшего окисления серебра и выделения кисло-
рода. Серебро, покрытое пассивной пленкой, про-
являет вентильный эффект, создавая сопротивле-
ние прохождению анодного тока. Подобный эф-
фект обнаружен также для серебра в растворах хло-
ридов и бромидов.
Наложение постоянного анодного тока при-
водило к задержке потенциала на некотором зна-
чении, пропорциональном приложенному току.
После полного покрытия поверхности серебра пас-
сивной пленкой, имеющей большое сопротивле-
ние, наблюдался стремительный рост потенциа-
ла. По плотности тока и времени до полного по-
крытия пассивной пленкой рассчитана минима-
льная толщина пленки оксида, необходимая для
полной пассивации, она составляет 10 нм (рис. 2).
Предполагается, что пассивация анода в рас-
творе K[Ag(CN)2] обусловлена образованием тон-
кой пассивной пленки Ag2O, полупроводниковые
свойства которой, вероятно, вызваны выталки-
ванием электролита из пор согласно электроос-
Рис. 1. Циклические вольтамперограммы серебряного
электрода в 0.125 М растворах KOH (1) и K[Ag(CN)2]
(2) при 25 оС (v=25 мВ⋅с–1).
Рис. 2. Зависимость минимальной толщины пассив-
ного слоя от плотности тока в растворе K[Ag(CN)2]
(60 г/л).
ISSN 0041-6045. УКР. ХИМ . ЖУРН . 2006. Т . 72, № 1 73
мотическому эффекту. Существенное влияние на
образование полупроводниковой пленки, по-ви-
димому, оказывают цианид-ионы, присутству-
ющие в растворе.
РЕЗЮМЕ. Досліджено анодну поведінку срібла у
розчині комплексу K[Ag(CN)2]. На основі отриманих
даних зроблено припущення, що повна пасивація у цьо-
му розчині відбувається за рахунок утворення суцільного
шару Ag2O з напівпровідниковими властивостями.
SUMMARY. Investigation data of silver anodic beha-
vior in the K[Ag(CN)2] solution was made in the present
paper. On the basis of polarization curves there was a
hypothesis of compact Ag2O film formation with semi-
conductor properties.
1. Груев И.Д., Матвеев Н .И., Сергеева Н .Г. Гальва-
ническое золочение, серебрение и палладирование
в производстве радиоэлектронной аппаратуры. -
М .: Радио и связь, 1981.
2. Янкаускас Т .Ю., Скучас В.Ю., Кайкарис В.А. // Журн.
прикл. химии. -1972. -45, № 12. -С. 2747, 2748.
3. Мельников П.С. Справочник по гальванопокрытиям
в машиностроении. -М .: Машиностроение, 1979.
4. Видович Г.Л., Лейкис Д.И ., Кабанов Б.Н . Докл.
АН СССР. -1962. -142. -С. 109—112.
5. Krastev I., Z ielonka A., Nakabayashi S., Inokuma K.
// J. Appl. Electrochem. -2001. -31. -P. 1041—1047.
Институт общей и неорганической химии Поступила 17.06.2005
им. В.И . Вернадского НАН Украины, Киев
74 ISSN 0041-6045. УКР. ХИМ . ЖУРН . 2006. Т. 72, № 1
|