APA (7th ed.) Citation

Pomatsalyuk, R., Shevchenko, V., Titov, D., Tenishev, A., Uvarov, V., Zakharchenko, A., & Vereshchaka, V. (2021). Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Pomatsalyuk, R.I, V.A Shevchenko, D.V Titov, A.Eh Tenishev, V.L Uvarov, A.A Zakharchenko, and V.N Vereshchaka. Formation and Monitoring of Secondary X-ray Radiation Under Product Processing with Electron Beam. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2021.

MLA (8th ed.) Citation

Pomatsalyuk, R.I, et al. Formation and Monitoring of Secondary X-ray Radiation Under Product Processing with Electron Beam. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2021.