Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения - Перевертайло, В.Л. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012)
Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p—n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низкоэнергетического (10—40 кэВ) рентгеновского излучения.