Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники - Попов, В.М.; Клименко, А.С.; Поканевич, А.П. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008)
Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.